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電科思儀推出國內首套500GHz多功能芯片測試解決方案
來源:新聞中心
發布時間:2026年01月26日 編輯:新聞中心

 

  近日,電科思儀研制出3601型S參數測試模塊、36102型探針、20501型校準片等系列產品,結合商業探針臺,在國內首次推出最高頻率至500GHz的高穩定、多功能太赫茲芯片測試解決方案。

 

2026.1.23電科思儀

  太赫茲技術正加速從實驗室走向商業應用,使得行業對太赫茲芯片測試的要求發生了根本性轉變,測試目標已不再局限于功能層面的“能用”,而是全面追求復雜真實場景中性能穩定、測試高效且成本可控的“好用”。電科思儀太赫茲多功能芯片測試解決方案,能夠實現太赫茲芯片幅度、相位、群時延等參數精準測試。該方案具有良好的幅度穩定性和相位穩定性,適用于晶圓級太赫茲芯片的研發驗證與量產測試。結合自主開發的多功能測試軟件算法,一次扎針可實現散射參數、功率參數的一體化測試,大幅度提升晶圓級太赫茲芯片的測試效率和測試精度。

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